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Sehen heißt wissen - Das Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor. ISBN 3-89301-081-5, Bildband 22x25 cm2, 182 Seiten. Druckerei E. Kurz & Co. Stuttgart 1998, vergriffen. Ggfs. im Zweithandel (ZVAB, Amazon,...) oder in Uni-Bibliotheken. |